PCB銅箔膜四探針方阻電阻率測試儀

 方阻測試儀-PCB銅箔膜四探針方阻電阻率測試儀

按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）及標準設(shè)計制造該儀器設(shè)計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準，本機配置232電腦接口及USB兩種接口，本機采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準確.

本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.

方阻測試儀-PCB銅箔膜四探針方阻電阻率測試儀

規(guī)格型號

FT-331

FT-332

FT-333

FT-334

FT-335

FT-336

1.方塊電阻范圍

10-5～2×105Ω/□

10-4～2×103Ω/□

10-3～2×105Ω/□

10-3～2×103Ω/□

10-2～2×105Ω/□

10-2～2×103Ω/□

2.電阻率范圍

10-6×106Ω-cm

10-5×104Ω-cm

10-4～2×106Ω-cm

10-4～2×104-cm

10-3～2×106Ω-cm

10-3～2×104-cm

3.測試電流范圍

0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

10μA，100μA，1mA，10mA，

100 mA

0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度

±0.1%讀數(shù)

±0.2%讀數(shù)

±0.2%讀數(shù)

±0.3%讀數(shù)

±0.3%讀數(shù)

±0.3%讀數(shù)

5.電阻精度

≤0.3%

≤0.3%

≤0.3%

≤0.5%

≤0.5%

≤0.5%

6.顯示讀數(shù)

液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測試方式

普通單電測量

8.工作電源

輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機不確定性誤差

≤4%（標準樣片結(jié)果）

10.選購功能

選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺

11.測試探頭

探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

ROOKO/瑞柯品牌，來自瑞柯儀器公司，一個專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).

專業(yè)與精致并重；與智慧之原